Description

In diesem Buch werden mehrere neue Ans tze vorgestellt, die den Weg f r die n chste Generation integrierter Schaltungen ebnen, die auch in sicherheitskritischen Anwendungen erfolgreich und zuverl ssig integriert werden k nnen. Die Autoren beschreiben neue Ma nahmen zur Bew ltigung der steigenden Herausforderungen im Bereich des Designs f r Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverl ssigkeit, die f r moderne Schaltungsentw rfe unbedingt erforderlich sind. Insbesondere werden in diesem Buch formale Techniken wie das Satisfiability (SAT)-Problem und das Bounded Model Checking (BMC) kombiniert, um die entstehenden Herausforderungen in Bezug auf die Zunahme des Testdatenvolumens, die Testanwendungszeit und die erforderliche Zuverl ssigkeit zu bew ltigen. Alle Methoden werden detailliert diskutiert und unter Ber cksichtigung von industrie-relevanten Benchmark-Kandidaten ausf hrlich evaluiert. Alle Ma nahmen wurden in ein gemeinsames Framework integriert, das standardisierte Software/Hardware-Schnittstellen implementiert.